Ключевые слова: HTS, Bi2212, wires, cables, fabrication, mechanical treatment, deformation, critical current, modeling
Masi A., Armenio A.A., Augieri A., Celentano G., Duchenko A., Pompeo N., Rufoloni A., Vannozzi A., Varsano F.
Ключевые слова: pnictides, wires, sheath, critical caracteristics, fabrication, PIT process, sintering, microstructure, Jc/B curves
Rizzo F., Rufoloni A., Vannozzi A., Varsano F., Ciccioli A., Celentano G., Augieri A., Duchenko A., Armenio A.A., Barba L., Plaisier J.R., Gigli L., Masi A.
Piperno L., Vannozzi A., Pinto V., Augieri A., Armenio A.A., Rizzo F., Mancini A., Rufoloni A., Celentano G., Braccini V., Cialone M., Iebole M., Manca N., Martinelli A., Putti M., Sotgiu G., Meledin A.
Campagna E., Piperno L., Pinto V., Augieri A., Rufoloni A., Mancini A., Armenio A.A., Masi A., Rizzo F., Salvato M., Celentano G., Vannozzi A.
Masi A., Armenio A.A., Augieri A., Celentano G., Duchenko A., Rufoloni A., Vannozzi A., Varsano F., Corte A.
Marzi G.D., Bordini B., Muzzi L., Affinito L., Armenio A.A., Baffari D., Formichetti A., Freda R., Merli L., Rufoloni A., Corte A.D.
Pinto V., Vannozzi A., Armenio A.A., Celentano G., Angelis M.D., Rizzo F., Carcione R., Domenici F., Palmieri D., Politi S., Tomellini M., Orlanducci S.
Vannozzi A., Prili S., Sylva G., Masi A., Armenio A.A., Mancini A., Pinto V., Rufoloni A., Piperno L., Augieri A., Rizzo F., Manfrinetti P., Braccini V., Putti M., Silva E., Celentano E.S.
Ключевые слова: chalcogenide, FeSeTe, films, PLD process, fabrication, buffer layers, films epitaxial, chemical solution deposition, substrate single crystal, substrate sapphire, substrate SrTiO3, X-ray diffraction, microstructure, resistive transition, resistance, temperature dependence, critical caracteristics, Jc/B curves, pinning force
Sotgiu G., Celentano G., Armenio A.A., Piperno L., Petrisor JrT., Vannozzi A., Pinto V., Rizzo F., Augieri A., Mancini A., Rufoloni A., Mos R.B., Ciontea L., Petrisor T.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, template layers, substrate SrTiO3, nanoscaled effects, microstructure, critical caracteristics, critical current density, fabrication, MOD process, surface, pinning centers artificial, X-ray diffraction, Jc/B curves, angular dependence, pinning force, lattice parameter, magnetic field dependence, experimental results
Piperno L., Vannozzi A., Pinto V., Armenio A.A., Rondino F., Santoni A., Mancini A., Rufoloni A., Augieri A., Tortora L., Sotgiu G., Celentano G.
Pinto V., Vannozzi A., Armenio A.A., Rizzo F., Masi A., Santoni A., Meledin A., Ferrarese F.M., Orlanducci S., Celentano G.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films epitaxial, GdBCO, YGdBCO, fabrication, chemical solution deposition, MOD process, substrate SrTiO3, pinning centers artificial, lattice parameter, X-ray diffraction, grain size, composition, microstructure, critical caracteristics, Jc/B curves, critical temperature, irreversibility fields, temperature dependence, critical current density, angular dependence, experimental results
Armenio A.A., Piperno L., Marzi G.D., Pinto V., Mancini A., Rizzo F., Vannozzi A., Rufoloni A., Augieri A., Mos R.B., Ciontea L., Petrisor T., Petrisor T. J., Jr., Sotgiu G., Celentano a.G.
Piperno L., Armenio A.A., Vannozzi A., Mancini A., Rizzo F., Augieri A., Pinto V., Rufoloni A., Mos R.B., Ciontea L., jr T.P., Petrisor T., Sotgiu G., Celentano G.
Vannozzi A., Augieri A., Celentano G., Rufoloni A., Rubanov S., Pinto V., Fabbri F., Armenio A.A., Galluzzi V., Mancini A., Rizzo F., Petrisor T.
Piperno L., Armenio A.A., Vannozzi A., Galluzzi V., Pinto V., Rizzo F., Augieri A., Mancini A., Rufoloni A., Celentano G., Mos R.B., Ciontea L., Nasui M., Gabor M., Petrisor T., Sotgiu G.
Vannozzi A., Rufoloni A., Mancini A., Augieri A., Celentano G., Pinto V., Rizzo F., Armenio A.A., Galluzzi V., Piperno L., Sotgiu G., Petrisor T.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, YBCO, substrate Ni-Cu, substrate Ni-W, substrate Ni-W-Cu, buffer layers, fabrication, PLD process, chemical solution deposition, electron beam evaporation, microstructure, heat treatment, annealing process, grain boundaries, films epitaxial, X-ray diffraction, experimental results
Pinto V., Lamanna R., Vannozzi A., Armenio A.A., Marzi G.D., Augieri A., Piperno L., Sotgiu G., Celentano G.
Ключевые слова: HTS, YBCO, fabrication, MOD process, pinning centers artificial, precursors, substrate SrTiO3, spin coating process, films epitaxial, aging, composition, critical temperature
Augieri A., Rizzo F., Galluzzi V., Mancini A., Fabbri F., Armenio A.A., Vannozzi A., Pinto V., Rufoloni A., Piperno L., Masi A., Celentano G., Barba L., Arrighetti G., Campi G.
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